第 卷第 期 光电技术应用 ...
年 月 . ,
· 电路 与控 制 ·
无专用测试接 口设 备的 设计
王 建 ,高 莹
中国电子科技集 团公司光 电研究 院,天津
摘 要 :针对 无专 用测试接 口的设备进行 测试时单个现场可更换单元故 障隔离率低 的问题 ,采用测试信号并行 引出技
术 。开发现场可更换单元的测试适配板等测试硬件 ,将现场可更换单元的测试信号并行引出到 自动测试设备进行测试分析 ,高可
靠地实现 了单个现场可更换单元 的故 障隔离 ;同时对信号并行引 出带来的测试信号失真 问题 ,在测试程序 中采用动态库数据解
析技术 ,提高了测 试信号参数解析的准确率 。
关键词 :;现场可更换单元 ;专用测试接 口;并行引出
中图分类号 : 文献标识码 : 文章编号 :—一——
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随着科学技术的发展 ,航空航天设备 、军用武 用测试接 口,通过专用测试接 口将所需测试信号引
器系统等高技术产品的复杂程度 日益提高 ,传统 的 出到 部 与 连 接 ,通 过解 析 测量 结 果及 一
人工检测维护 手段 已经无 法满足现代化装备 的支 系列逻辑判 断步骤来完成 性能测试和故障隔
持保障要求,自动测试系统正逐步成为复杂 离。有些 在 设计之 初没有预 留专用测试 接
系统与设备可靠运行的必要
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