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文档分类:资格/认证考试

半导体照明综合标准化技术体系标准明细表——制定中的标准.doc


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半导体照明综合标准化技术体系标准明细表——制定中的标准.doc
文档介绍:
附件3:半导体照明综合标准化技术体系标准明细表——制定中的标准子体系01:材料和设备总序号子序号体系编号标准代号和编号标准名称采用的或相应的国际、国外标准号标准状态标准类型备注0101材料010101原材料11电子级三***镓立项公示产品标准国标010102衬底材料22-T-469蓝宝石单晶衬底抛光片规范制定中产品标准国标33-T-469蓝宝石单晶晶锭制定中产品标准国标442009-2768T-SJ蓝宝石单晶抛光片规范制定中产品标准行标55-T-469蓝宝石晶锭应力测试方法制定中方法标准国标66-T-469蓝宝石衬底片翘曲度测试方法制定中方法标准国标77-T-469蓝宝石衬底片弯曲度测试方法制定中方法标准国标88-T-469蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法制定中方法标准国标99蓝宝石位错密度测量方法立项公示方法标准国标1010-T-469碳化硅单晶抛光片制定中产品标准国标11112009-2773T-SJ碳化硅单晶抛光片规范制定中产品标准国标12122009-2752T-SJ碳化硅抛光晶片表面质量测试方法制定中方法标准行标13132009-2770T-SJ碳化硅单晶电学性能的测试方法制定中方法标准行标14142009-2771T-SJ碳化硅单晶晶向的测试方法制定中方法标准行标15152009-2772T-SJ碳化硅单晶晶型的测试方法制定中方法标准行标16162009-2776T-SJ碳化硅抛光片表面粗糙度的测试方法制定中方法标准行标1717-T-469碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法制定中方法标准国标1818-T-469碳化硅单晶片微管道密度测试方法制定中方法标准国标1919-T-469SiC晶片直径测试方法制定中方法标准国标2020-T-469碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法制定中方法标准国标2121碳化硅单晶片平整度测试方法立项公示方法标准国标2222-T-469LED外延芯片用磷化镓衬底规范制定中产品标准国标2323-T-469LED外延芯片用***化镓衬底规范制定中产品标准国标24242009-2756T-SJ低位错密度磷化铟抛光片腐蚀坑密度(EPD)的测试方法SEMIM37-0699制定中方法标准行标25252009-2757T-SJ低位错密度***化镓抛光片腐蚀坑密度的测量方法制定中方法标准行标010103发光材料2626LED用稀土氮化物红色荧光粉制定中产品标准国标2727LED用稀土硅酸盐荧光粉制定中产品标准国标2828LED灯用稀土黄色荧光粉制定中产品标准国标2929LED用稀土硅酸盐荧光粉试验方法第1部分:相对亮度的测定制定中方法标准国标3030LED用稀土硅酸盐荧光粉试验方法第2部分:光谱性能的测定制定中方法标准国标3131LED用稀土硅酸盐荧光粉试验方法第3部分:色品坐标的测定制定中方法标准国标3232LED用稀土硅酸盐荧光粉试验方法第4部分:热稳定性的测定制定中方法标准国标010106其他材料3333高亮度LED用电路板立项公示产品标准国标3434高亮度LED用电路板试验方法立项公示方法标准国标0102设备010200设备通用标准35352010-3099T-SJ半导体设备生产能力的定义和测量制定中基础标准行标36362010-3114T-SJ设备培训最优方法指南制定中基础标准行标3737-T-469半导体生产设施 内容来自淘豆网www.taodocs.com转载请标明出处.