一种由被测电路自己施加测试矢量的BIST方法研究的中期报告.docx

该【一种由被测电路自己施加测试矢量的BIST方法研究的中期报告 】是由【niuww】上传分享，文档一共【1】页，该文档可以免费在线阅读，需要了解更多关于【一种由被测电路自己施加测试矢量的BIST方法研究的中期报告 】的内容，可以使用淘豆网的站内搜索功能，选择自己适合的文档，以下文字是截取该文章内的部分文字，如需要获得完整电子版，请下载此文档到您的设备，方便您编辑和打印。一种由被测电路自己施加测试矢量的BIST方法研究的中期报告本研究旨在研究一种基于被测电路自己施加测试矢量的BIST(Built-InSelf-Test)方法。该方法通过在设计时向被测电路中添加一些特殊的电路元件,使得电路能够自行产生测试矢量,从而在不需要外部测试设备的情况下进行自测。本报告主要介绍了该方法的设计思路、实现架构以及初步的模拟实验结果。首先,我们设计了一种可扩展的BIST结构,使得该方法能够同时支持各种类型的被测电路,并且能够自适应不同的测试要求。该结构由一个自产生测试矢量的测试模块和一个自动结果验证模块组成,其中测试模块负责产生测试矢量,并将测试结果传递给验证模块进行判定。其次,我们利用VerilogHDL语言实现了该BIST结构,并对其进行了功能仿真。初步实验结果表明,该结构能够正确地产生测试矢量,并能够有效地检测出电路的故障。最后,我们对该方法进行了一些进一步地研究,包括结合压缩算法提高测试效率,加入遗传算法以优化测试模块参数等方面的探索。未来我们将继续进行实验,进一步验证该方法的可靠性和实用性。总之,该研究为实现更高效的BIST方法提供了一种新思路。该方法不仅可以降低测试成本,同时也可以提高测试效率和测试精度。